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据英国《自然?通讯》杂志3日发表的一篇医学研究论文,中美科学家对一种名为“NanoVelcro”的芯片进行了大幅优化,新芯片包含很细的硅纳米线,可针对胎盘植入谱系(PAS)疾病进行无...

据英国《自然?通讯》杂志3日发表的一篇医学研究论文,中美科学家对一种名为“NanoVelcro”的芯片进行了大幅优化,新芯片包含很细的硅纳米线,可针对胎盘植入谱系(PAS)疾病进行无创早期诊断,这种疾病会导致孕产妇在分娩中死亡。

胎盘植入谱系疾病包括侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘,具体是指妊娠期间胎盘过度侵入子宫肌层,且在分娩时无法脱落。这会造成严重出血,甚至有时会导致孕产妇死亡。目前诊断该疾病的方法虽然也很有效,但有时依然会出现不够准确的情况,抑或是在资源匮乏的地区难以实现。

此次,包括美国加州大学洛杉矶分校、中国深圳人民医院等机构研究人员在内的团队,对之前开发的“NanoVelcro”芯片进行了优化,新芯片包含很细的硅纳米线,外部涂有能检测循环滋养层细胞(组成胎盘的细胞)的抗体。这些细胞会在胎盘发育过程中单个或聚集脱落到母体血液循环中,细胞数量的增加可能提示胎盘植入谱系疾病。

研究团队对168位孕妇进行了血检,有些孕妇被诊断出患有胎盘植入谱系疾病,有些被诊断为胎盘前置(胎盘覆盖宫颈内口),有些胎盘形成正常。团队发现,PAS组的单个和聚集循环滋养层细胞计数比其他两个组更高。同时,研究还发现,单个和聚集循环滋养层细胞的数量,有助于在妊娠早期将PAS从前置胎盘和正常胎盘中区分出来。

研究人员指出,现在需利用更大样本开展进一步研究。胎盘植入谱系疾病会导致孕产妇在分娩中出现非常严重的状况,而这种新的诊断技术则有望在不久的将来补充现有技术,提高妊娠早期诊断胎盘植入谱系疾病的准确性。

总编辑圈点

老话说,产妇是“鬼门关上走一遭”,随着医学不断进步,孕产妇生命已得到极大程度的保护。但胎盘植入,仍是产科少见但非常凶险的并发症,如不及时果断处理,依然会危及产妇生命。这一疾病在近年来发病率呈上升趋势,因此我们很高兴看到,一种能及早诊断并阻止危险发生的技术手段,正走向实用。(记者张梦然)


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